单粒子效应测试系统

本测试系统可测试航空芯片的以下抗辐射参数：

总剂量效应（TID：Total Ionizing Dose）；

单粒子效应（SEE：Single Event Effects），包括单粒子翻转效应（SEU：Single Event Upset）和单粒子锁定效应（SEL：Single Event Latchup）；

单粒子瞬时干扰( SET：Single Event Transient)；

总剂量辐射效应（TID）。